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全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。
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